问答题
列出氧化硅的五种主要物理参数,并说明实际中如何测试氧化层厚度。
密度,折射率,电阻率,介电强度,(相对)介电常数。 实际中可用折射率,介质强度和介电常数来测量。
问答题 试说明热氧化反应为什么发生在Si—SiO2界面上,以及这种反应机制有何好处?
问答题 氧化工艺产生的SiO2为何种类型?并说明其结构对其强度和密度的影响。
问答题 试说明按结构分类的二氧化硅的基本类型且各举一例,并说明各种类型的主要结构特点。