判断题
上芯后兰膜上顶针痕迹与芯片中心不对应,有偏移为不良。
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判断题 芯片边缘崩缺伤及芯片表面有效区域为不良。
判断题 针对甩胶;DAF膜上芯产品,芯片四周可以不出胶。
判断题 对于特殊产品,粘片胶覆盖率按照压焊图要求执行。