判断题 晶体中只要有缺陷，用透射电镜就可以观察到这个缺陷。

判断题 明场像是质厚衬度，暗场像是衍衬衬度。

判断题 TEM的景深和焦长随分辨率Δr0的数值减小而减小；随孔径半角α的减小而增加；随放大倍数的提高而减小。