判断题
与IIW试块相比CSK-IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。
正确
判断题 中心切槽的半圆试块,其反射特点是多次回波总是等距离出现。
判断题 当斜探头对准IIW2试块上R50曲面时,荧光屏上的多次反射回波是等距离的。
判断题 利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离,仅能测定直探头盲区的大致范围。