问答题
简述硅中氧、碳含量检测的原理。
硅中的氧主要以间隙的形式存在。间隙氧含量的测量，是用红外光谱仪测定硅-氧键在1107cm-1（9.......
(↓↓↓ 点击下方‘点击查看答案’看完整答案 ↓↓↓)
问答题 简述陷阱效应的表现和消除方法。
问答题 什么是少子寿命检测中的陷阱效应？
问答题 哪些因素决定少子寿命？
