多项选择题

A.多晶硅和衬底半导体材料之间的功函数差的绝对值增大
B.栅极氧化层厚度变薄(单位面积的栅氧化层电容增大)
C.氧化层中的表面电荷(正电荷)减少
D.在沟道区人工注入p型杂质离子使得单位面积的电荷密度升高