判断题 产生直接跃迁与间接跃迁的原因主要取决于半导体材料的能带结构。

判断题 晶体缺陷分为点缺陷，面缺陷和线缺陷？

判断题 平面的方位影响受光面接受太阳辐射，如果自西向南稍偏东，则受光面接收到的日照辐射，上午较多，下午较少。