判断题 半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。

判断题 当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸。

判断题 所谓“幻影回波”，是由于探伤频率过高或材料晶粒粗大引起的。