判断题
LPCVD多晶硅和氮化硅等薄膜易形成保形覆盖,在低温APCVD中,非保形覆盖一般比较常见。
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判断题 相同掺杂浓度下,多晶硅的电阻率比单晶硅的电阻率高得多。
判断题 LPCVD系统中淀积速率是受表面反应控制的,APCVD系统中淀积速率受质量输运控制。
判断题 实现对CVD淀积多晶硅掺杂主要有三种工艺:扩散、离子注入、原位掺杂。由于原位掺杂比较简单,所以被广泛采用。