单项选择题 射线底片上影像所代表的缺陷性质的识别通常可以从（）黑度分布和位置进行综合分析。

单项选择题 超声波探伤较射线探伤具有（）、探伤周期短、成本低、安全等优点。

单项选择题 磁粉检测的工艺要点（）。