判断题 实际检测中，检测面积大的工件时，为了提高检测效率宜采用小晶片探头。

判断题 一般根据工件的形状和可能出现缺陷的部位、方向等条件来选择探头的型式，使声束轴线尽量与缺陷平行。

判断题 探头的选择包括探头的型式、频率、晶片尺寸、灵敏度余量和斜探头K值等。