填空题 四探针法测试，C的大小取决于四探针的（）和针距。

填空题 （）是半导体单晶重要电学参数之一，它反映了补偿后的杂质浓度，与半导体中的载流子浓度有直接关系。

填空题 目前国内外导电类型测量有两种（），整流效应法。