判断题
双探头法检测，对于与波束轴线垂直的面状缺陷和立体型缺陷的检出效果最好；与波束轴线平行的面状缺陷难以检出。
【参考答案】
错误
(↓↓↓ 点击‘点击查看答案’看答案解析 ↓↓↓)
点击查看答案&解析
判断题
错误
(↓↓↓ 点击‘点击查看答案’看答案解析 ↓↓↓)
微信扫一扫,加关注免费搜题