相关考题
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单项选择题
探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。
A、斜射法
B、水浸法
C、接触法
D、穿透法 -
单项选择题
能发现缺陷，但一般情况下不能测出它们深度的探伤方法是（）。
A、垂直法
B、斜射法
C、穿透法
D、水浸法 -
单项选择题
有缺陷存在，但不会在仪器示波屏上显示缺陷回波的探伤方法，称为（）。
A、垂直法
B、表面波法
C、斜射法
D、穿透法
