问答题
计算题
比较比Si材料和用Ge材料做成的探测器由于电子－空穴对的统计涨落对分辨率的影响。如果除了统计涨落外，所有其他因素对谱线宽度的贡献为5kev，那么对Si和Ge来说，探测多大能量的粒子才会形成20kev的线宽？
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问答题
绝对峰效率为38％的NaI（T1）闪烁探测器，对57Co源的122kevγ射线测量15min光电峰计数146835个。然后同样的源置于离表面积为3600mm2的Si（Li）探测器的表面为10㎝记录60得到一个谱。如果在7.1kev的KβX射线峰下面的计数为932个，那么在这个能量时Si（Li）探测器的效率是多少？（对于57Co的特征X射线和γ射线的强度比X/γ分别为：对6.40kev的Kα线为0.5727，对7.1kev的Kβ线为0.7861。 -
问答题
本征层厚度为3mm的一个380mm2的平面Ge（Li）探测器对距它表面100㎜处0.25MBq的137Csγ射线源测量5min所得的全能峰、单逃逸峰、双逃逸峰下面的计数（R＝20/1）。 -
问答题
一个Ge（Li）探头相对于标准Φ7.62cm×6.62cm的NaI（T1）闪烁体有8％的光电峰效率。求对于距探测器40㎝处一个3.7×107Bq的60Co点源的1.33MeV全能峰计数率。
