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SEM的试样要求（）
A.导电
B.绝缘
C.表面光滑
D.表面粗糙 -
单项选择题
电磁透镜的景深是指（）
A.像平面允许的横向偏差
B.物平面允许的横向偏差
C.物平面允许的轴向偏差
D.像平面允许的轴向偏差 -
多项选择题
以下哪些方式属于电子探针的分析方式（）
A.点分析
B.线分析
C.面分析
D.体分析
