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多项选择题
集成电路的电学测试包括功能测试和参数测试，以下属于电学测试的为（）。
A.电流
B.电场强度
C.电压
D.阻抗 -
单项选择题
以下电子产品的测试方法，属于破坏性测试的为（）。
A.选择性剥层
B.透射电镜扫描
C.X射线检测
D.红外光谱分析 -
单项选择题
要观察半导体器件上的针眼和小孔、钝化层裂缝等缺陷，应使用（）。
A.扫描电子显微镜
B.光学显微镜
C.透射电子显微镜
D.原子力显微镜
