填空题 半导体晶体缺陷可以分为（）和微观缺陷，以及点阵应变和表面机械损伤。

填空题 快速腐蚀时一般不受光照影响，而慢速腐蚀时（）影响比较大。

填空题 目前常用的测量非平衡半导体晶体载流子寿命表的方法，一般可分为两大类，（），稳态法（间接法）。