多项选择题
以下关于可测性设计的描述中，哪些是正确的（）。
A.可测性设计就是在设计阶段考虑测试因素，牺牲一部分芯片面积换得测试的容易化
B.可测性设计使用自动生成工具（ATPG），易于生成故障覆盖率高的测试模式
C.可测性设计由于增加了设计负荷，将一定导致芯片整体开发成本的增加
D.可观察性与可控制性是衡量可测性设计的两个尺度
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多项选择题
以下问题描述中，哪些有可能通过可测性设计发现（）。
A.制造误差
B.性能问题
C.制造故障
D.功能未满足顾客的需求 -
多项选择题
以下关于逻辑综合的描述，哪些是正确的（）。
A.逻辑综合的结果是唯一的
B.逻辑综合技术可分为生成顺序电路和生成组合电路两类
C.布尔逻辑公式的简化一般与制造工艺无关
D.同一逻辑可以由多种电路实现，逻辑综合则选择与面积、延迟时间、功耗等要求最接近的电路 -
单项选择题
以下描述比较不同抽象度设计的仿真速度，哪些是正确的（）。
A.算法级>门级>RTL级
B.RTL级>门级>算法级
C.门级>算法级>RTL级
D.算法级>RTL级>门级
