相关考题
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单项选择题
背面破损:芯片厚度≤280um,背崩宽度Y大于1/2芯片厚度,芯片厚度>280um,背崩宽度Y>()um。
A.120um
B.130um
C.140um
D.150um -
单项选择题
背面破损:背崩高度Z大于()芯片厚度。
A.2/3
B.1/3
C.3/4
D.1/2 -
单项选择题
铝层不良:压区面积小于原设计的()或没有外文保护层。
A.2/3
B.1/2
C.3/4
D.1/4
