相关考题
-
单项选择题
墨点中心偏移：墨点的中心偏移正常位置超过（）mils的，REJ。
A.10
B.15
C.20
D.25 -
单项选择题
背面破损：芯片厚度≤280um，背崩宽度Y大于1/2芯片厚度，芯片厚度＞280um，背崩宽度Y＞（）um。
A.120um
B.130um
C.140um
D.150um -
单项选择题
背面破损：背崩高度Z大于（）芯片厚度。
A.2/3
B.1/3
C.3/4
D.1/2
